Rasterelektronenmikroskop (REM)

Übersicht

Mit unserem Rasterelektronenmikroskop (REM) können Untersuchungen bis in den Submikrometerbereich durchgeführt werden. Durch den Einsatz verschiedener Detektoren handelt es sich um ein vielseitig einsetzbares Verfahren für die Beurteilung von Probenoberflächen, Bruchflächen und die chemische Analyse von Gefüge- oder sonstigen Probenbestandteilen.

Probenspektrum

Das Probenspektrum umfasst leitfähige sowie nicht leitfähige Proben jeder Art. Durch spezielle Einbettverfahren können zudem Schliffproben unter dem REM untersucht werden. Schadensbilder wie Probenverunreinigungen oder Bruchflächen eignen sich ebenfalls für eine Untersuchung.

Oberflächenuntersuchung

Eine gezielte und an die Fragestellung angepasste Präparation der Proben ermöglicht die Untersuchung von unbehandelten und entsprechend bearbeiteten Proben. Je nachdem kann so eine genaue topografische Analyse, z.B. einer Bruchfläche oder aber eine elementsensitive Untersuchung eines Gefüges durchgeführt werden.

EDX-Analyse

Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) erlaubt die qualitative oder quantitative chemische Analyse von Partikeln, Proben oder Gefügen. Hier können sowohl Punkt-, Linien- als auch Flächenanalysen durchgeführt werden. Ebenfalls möglich ist ein Elementmapping, das eine farbliche Darstellung der Elementverteilung im untersuchten Probenbereich erlaubt.