Schadensanalytik - Werkstoffcharakterisierung und Qualitätskontrolle

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ermöglicht extrem hochauflösende Darstellungen von Oberflächen, Mikrostrukturen und Bruchmechanismen. In Kombination mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) lassen sich zusätzlich chemische Elemente ab Ordnungszahl 5/6 sicher bestimmen. Damit liefert die REM /EDX Analytik entscheidende Informationen für Qualitätssicherung, Schadensanalysen, Werkstoffentwicklung und Prozessoptimierung. Als nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflabor bietet encontec unabhängige, reproduzierbare und industrienahe Analysen für Maschinenbau, Medizintechnik, Lebensmittelindustrie, Elektronik, Automotive und viele weitere Branchen.

Unsere Leistungen:

  • Hochauflösende REM‑Bildgebung
  • EDX‑Elementanalyse (Punkt, Linie, Fläche)
  • Fraktographie & Schadensanalyse
  • Analyse von Rissen, Poren, Einschlüssen, Partikeln
  • Schicht‑ und Querschnittsuntersuchungen
  • CL‑Analytik für Keramiken, Halbleiter, Minerale

 

Ihr Vorteil: Akkreditierte, reproduzierbare und industrienahe Materialanalysen – schnell, präzise und zuverlässig.

Jetzt REM‑/EDX‑Analyse anfragen –
wir liefern Ergebnisse, auf die Sie sich verlassen können.

Ihre Anfrage

REM- & EDX-Analytik –
hochauflösende Materialanalyse im Nanometerbereich

Im encontec Prüflabor untersuchen wir Oberflächen, Mikrostrukturen und Bruchmechanismen mit modernster Rasterelektronenmikroskopie (REM) und präziser EDX-Elementanalyse. Unsere Analysen liefern klare, belastbare Ergebnisse für Qualitätssicherung, Schadensanalytik und Werkstoffentwicklung.

 

Anwendungsbereiche der REM- und EDX-Analytik

Materialwissenschaften

  • Hochauflösende Untersuchung von Oberflächen, Bruchflächen und Querschliffen
  • Analyse von Mikrostrukturen, Gefügen und Materialübergängen
  • Bewertung von Schichten, Beschichtungen und Partikeln

Schadensanalyse

  • Identifikation von Schadensursachen durch REM + EDX
  • Chemische Analyse von Einschlüssen, Partikeln, Korrosionsrückständen
  • Fraktographische Auswertung zur Rekonstruktion von Bruchmechanismen

Kathodolumineszenz (CL-Detektor)

  • Analyse lumineszierender Eigenschaften unter Elektronenbeschuss
  • Sichtbarmachung von Defekten, Zonierungen, Phasen und Kristallwachstum
  • Ideal für Keramiken, Halbleiter, Minerale, Gläser und funktionale Werkstoffe

 

Ihre Vorteile auf einen Blick

Höchste Auflösung

Darstellung feinster Strukturen bis in den Nanometerbereich.

Exzellente Tiefenschärfe

Klar erkennbare Details auch bei sehr hohen Vergrößerungen.

Maximale Materialvielfalt

Analyse nahezu aller Werkstoffe: Metalle, Keramiken, Kunststoffe (anorganische Anteile), Glas, Pulver, Partikel, Anhaftungen und mehr.

 

Unsere REM- und EDX-Technologien

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Abtastung der Oberfläche mit fokussiertem Elektronenstrahl
  • Plastisch wirkende, hochauflösende Bilder
  • Darstellung von Mikro- und Nanostrukturen

 

Detektoren im Überblick

SE-Detektor (Sekundärelektronen)

  • Hochauflösende Topografie
  • Ideal für Morphologie, Rauigkeit, feine Strukturen

BSD-Detektor (Rückstreuelektronen)

  • Kontrast nach Elementgewicht
  • Optimal für Materialverteilung und Phasenanalyse

CL-Detektor (Kathodolumineszenz)

  • Sichtbarmachung von Defekten, Zonierungen, Kristallwachstum
  • Ergänzt REM/EDX um elektronische und strukturelle Informationen

EDX-Analytik

  • Elementbestimmung ab Bor oder Kohlenstoff
  • Punkt-, Linien- und Flächenanalysen (Spots, Linescans, Mappings)
  • Qualitative und quantitative Zusammensetzungsanalyse

 

Typische Einsatzgebiete

  • Bruchflächenuntersuchungen & Fraktographie
  • Analyse von Oberflächentopografie, Rauheit und Morphologie
  • Detektion von Mikrodefekten: Risse, Poren, Einschlüsse
  • Phasen- und Materialverteilungsanalysen
  • Charakterisierung von Schichten und Beschichtungen
  • Schichtdickenmessungen & Querschnittsanalysen
  • Pulver- und Partikelanalysen (inkl. Nano-Pulver)
  • Chemische Analyse von Verunreinigungen, Korrosionsprodukten, Rückständen
  • Defekt- und Inhomogenitätsanalysen in funktionalen Materialien
  • Untersuchung von Kristallwachstum, Zonierungen und Spannungen

 

Warum encontec?

Akkreditiertes Prüflabor

Zertifizierte Qualität nach DIN EN ISO/IEC 17025.

Erfahrenes Werkstofflaborteam

Langjährige Expertise in REM- und EDX-Analytik – von Routineprüfungen bis komplexen Schadensfällen.

Modernes Equipment

  • ZEISS EVO MA 25
  • SE-, BSE- und CL-Detektoren
  • Bruker XFlash EDX-System

Industrienahe Analysen

Für Produktoptimierung, Schadensaufklärung und Qualitätskontrolle.

encontec –
Ihr Partner für hochauflösende REM- und EDX-Analytik

Präzise, reproduzierbar und metrologisch belastbar – für sichere technische Entscheidungen.