
EDX- & REM-Analyse
Prüflabor EDX- & REM-Analyse
Als Prüflabor mit EDX & REM-Analyse bestimmen wir chemische Zusammensetzungen von Materialien, Partikeln, Schichten und mehr. Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ermöglicht extrem hochauflösende Darstellungen von Oberflächen, Mikrostrukturen und Bruchmechanismen. In Kombination mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) lassen sich zusätzlich chemische Elemente ab Ordnungszahl 5/6 sicher bestimmen. Damit liefert die REM /EDX Analytik entscheidende Informationen für Qualitätssicherung, Schadensanalysen, Werkstoffentwicklung und Prozessoptimierung. Als nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflabor bietet encontec unabhängige, reproduzierbare und industrienahe Analysen für Maschinenbau, Medizintechnik, Lebensmittelindustrie, Elektronik, Automotive und viele weitere Branchen.
Unsere Leistungen:
- Hochauflösende REM‑Bildgebung
- EDX‑Elementanalyse (Punkt, Linie, Fläche)
- Fraktographie & Schadensanalyse
- Analyse von Rissen, Poren, Einschlüssen, Partikeln
- Schicht‑ und Querschnittsuntersuchungen
- CL‑Analytik für Keramiken, Halbleiter, Minerale
Ihr Vorteil: Akkreditierte, reproduzierbare und industrienahe Materialanalysen – schnell, präzise und zuverlässig.
Jetzt REM‑/EDX‑Analyse anfragen –
wir liefern Ergebnisse, auf die Sie sich verlassen können.

Typische Anwendungsfälle:
- Elementanalyse von Partikeln
- Einschlüssen und Fremdmaterial
- Untersuchung von Schichtaufbauten und Grenzflächen
- Identifikation von Materialverunreinigungen
- Analyse der Elementverteilung in Mikrostrukturen
- Materialbestimmung mit Vergleich eines Materialzertifikats
Leistungsumfang:
- Punktanalysen zur Elementidentifikation
- Linien‑ und Flächenmapping (Elementverteilung)
- Kombination mit hochauflösender REM‑Bildgebung
- Vergleichsaufnahmen und Referenzanalysen
- Fachliche Bewertung der Ergebnisse
Ergebnis:
- Präzise Elementzusammensetzung (EDX)
- Aussagekräftige REM‑/EDX‑Bilddokumentation
- Klare Interpretation der Befunde
- Handlungsempfehlungen für Entwicklung, Fertigung oder Schadensanalyse
Erfahrenes Werkstofflaborteam
Langjährige Expertise in REM- und EDX-Analytik – von Routineprüfungen bis komplexen Schadensfällen.
Modernes Equipment
- ZEISS EVO MA 25
- SE-, BSE- und CL-Detektoren
- Bruker XFlash EDX-System
Industrienahe Analysen
Für Produktoptimierung, Schadensaufklärung und Qualitätskontrolle.
encontec –
Ihr Partner für hochauflösende REM- und EDX-Analytik
Präzise, reproduzierbar und metrologisch belastbar – für sichere technische Entscheidungen.