Prüflabor Rasterelektronen-Mikroskopie (REM)

Mit der Rasterelektronenmikroskopie analysieren wir Oberflächen, Mikrostrukturen und Partikel im Sub Mikrometerbereich. Das REM liefert hochauflösende, dreidimensional wirkende Bilder und ermöglicht die detaillierte Untersuchung von Rissen, Schichtsystemen, Korrosionserscheinungen, Partikeln und Gefügestrukturen. In Kombination mit EDX erhalten Sie präzise Informationen über Morphologie und chemische Zusammensetzung. Mit dem CL-Detektor können fluoreszierende Kunststoffschichten oder Risse ausgewiesen werden. Auch fluoreszierende Mineralien können untersucht werden.

VORTEILE REM

  • Höchste Auflösung: Darstellung feinster Strukturen bis in den Nanometerbereich. Plastisch wirkende, hochauflösende Bilder.
  • Exzellente Tiefenschärfe: Klar erkennbare Details auch bei sehr hohen Vergrößerungen.
  • Maximale Materialvielfalt: Analyse nahezu aller Werkstoffe: Metalle, Keramiken, Kunststoffe (anorganische Anteile), Glas, Pulver, Partikel, Anhaftungen und mehr.

Typische Anwendungsfälle:

 

  • Analyse von Rissen, Bruchflächen und Delaminationen
  • Untersuchung von Partikeln, Kontaminationen und Fremdmaterial
  • Bewertung von Schichtaufbauten, Grenzflächen und Oberflächenstrukturen
  • Charakterisierung von Korrosion, Verschleiß und Materialveränderungen
  • Unterstützung bei Schadensanalysen und Qualitätsbewertungen

 

Leistungsumfang:

  • Hochauflösende REM‑Bildgebung im Sub‑µm‑Bereich
  • Darstellung von Oberflächen, Mikrostrukturen und Partikeln
  • Kombination mit EDX‑Elementanalyse, Vergleichsaufnahmen und Referenzanalysen
  • Dokumentation aller relevanten Befunde

 

Ergebnis:

  • Hochauflösende REM‑Bilder mit klarer Darstellung von Mikrostrukturen
  • Identifikation von Defekten, Partikeln oder Materialabweichungen
  • Aussagekräftige Befunddokumentation
  • Handlungsempfehlungen für Entwicklung, Fertigung oder Schadensanalyse

 

Die Detektoren unseres REMs im Überblick:

SE-Detektor (Sekundärelektronen)

  • Hochauflösende Topografie
  • Ideal für Morphologie, Rauigkeit, feine Strukturen

BSD-Detektor (Rückstreuelektronen)

  • Kontrast nach Elementgewicht
  • Optimal für Materialverteilung und Phasenanalyse

CL-Detektor (Kathodolumineszenz)

  • Sichtbarmachung von Defekten, Zonierungen, Kristallwachstum
  • Ergänzt REM/EDX um elektronische und strukturelle Informationen